GSO IEC 60749-40:2015 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica.
2015GSO IEC 60749-40:2015 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica.