NF X21-011*NF ISO 24173:2009
Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones

Estándar No.
NF X21-011*NF ISO 24173:2009
Fecha de publicación
2009
Organización
Association Francaise de Normalisation
Ultima versión
NF X21-011*NF ISO 24173:2009
 

Introducción
Este estándar proporciona directrices para el uso de la técnica de electrones retrodispersados de difracción (EBSD) en el análisis de microhaces. Se enfoca en la orientación de las mediciones realizadas mediante este método, con el fin de garantizar la precisión y la consistencia en los resultados obtenidos. El documento establece los procedimientos recomendados para la calibración, la obtención de datos y la interpretación de los resultados. Además, incluye consideraciones sobre la preparación de las muestras y los requisitos técnicos necesarios para la implementación efectiva de la técnica. La norma también aborda aspectos relacionados con la validación y la repetibilidad de los ensayos. Su enfoque es práctico, orientado a los usuarios que desean aplicar este método en su trabajo experimental.

NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Historia

  • 2009 NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones

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