YD/T 702-2018
Método de prueba del componente receptor óptico PIN-FET (Versión en inglés)

Estándar No.

YD/T 702-2018

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2018

Organización

工业和信息化部

Ultima versión

YD/T 702-2018

Reemplazar

YD/T 702-1993

YD/T 702-2018 Historia

• 2018 YD/T 702-2018 Método de prueba del componente receptor óptico PIN-FET
• 1994 YD/T 702-1993 Método de prueba para unidades receptoras ópticas.