ISO/PRF 5861:2024 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
International Organization for Standardization (ISO)
Ultima versión
ISO/PRF 5861:2024
Introducción
Esta norma proporciona métodos detallados para la calibración del nivel de intensidad en instrumentos de espectroscopía de fotoelectrones (XPS) que utilizan cristales de cuarzo monocromatizados con Al Kα. Describe los procedimientos específicos necesarios para asegurar la precisión y confiabilidad de las mediciones realizadas con este tipo de equipo, fundamental en el campo de la análisis químico superficial.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
ISO/PRF 5861:2024 Historia
2024ISO/PRF 5861:2024 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.