IEEE 300-1988
Procedimientos de prueba estándar para detectores de partículas cargadas de semiconductores

Estándar No.

IEEE 300-1988

Fecha de publicación

1988

Organización

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

Ultima versión

IEEE 300-1988

IEEE 300-1988 Historia

• 1988 IEEE 300-1988 Procedimientos de prueba estándar para detectores de partículas cargadas de semiconductores
• 1982 IEEE 300-1982 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA DETECTORES DE PARTÍCULAS CARGADAS DE SEMICONDUCTOR
• 1970 IEEE 300-1969 Procedimiento de prueba estándar de EE. UU. y IEEE para detectores de radiación semiconductora (para radiación ionizante)