BS EN 60749-6:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Almacenamiento a alta temperatura. normas y especificaciones

Alcance: ¿De qué trata BS EN IEC 60749-6: Almacenamiento a altas temperaturas de dispositivos semiconductores? BS EN IEC 60749 es una norma internacional que cubre el almacenamiento a altas temperaturas de dispositivos semiconductores, facilitando la operatividad y el rendimiento en aplicaciones electrónicas. El propósito de BS EN 60749-6 es probar y determinar el efecto del almacenamiento en dispositivos electrónicos de estado sólido a temperaturas elevadas sin aplicar tensión eléctrica. La prueba BS EN 60749-6 se utiliza normalmente para determinar los efectos del tiempo y la temperatura, en condiciones de almacenamiento, para métodos de falla activados térmicamente y el tiempo hasta la falla de s...

BS EN 60749-6:2017 Historia

2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
2002 BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
1999 BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
0000 BS 6493-3:1986