BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos. normas y especificaciones

Estándar No.: BS EN 60749:1999
Fecha de publicación: 1999
Organización: British Standards Institution (BSI)
Estado: 2006-12
Remplazado por: BS EN 60749-12:2002; BS EN 60749-4:2002; BS EN 60749-6:2002; BS EN 60749-10:2002; BS EN 60749-13:2002; BS EN 60749-3:2002; BS EN 60749-2:2002; BS EN 60749-9:2002; BS EN 60749-11:2002; BS EN 60749-18:2003; BS EN 60749-31:2003; BS EN 60749-22:2003; BS EN 60749-1:2003; BS EN 60749-8:2003; BS EN 60749-16:2003; BS EN 60749-36:2003; BS EN 60749-17:2003; BS EN 60749-5:2003; BS EN 60749-25:2003; BS EN 60749-14:2003; BS EN 60749-29:2004; BS EN 60749-39:2006; BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Ultima versión: BS EN IEC 60749-12:2018; BS EN 60749-4:2002; BS EN 60749-6:2002; BS EN 60749-10:2002; BS EN IEC 60749-13:2018; BS EN 60749-3:2002; BS EN 60749-2:2002; BS EN 60749-9:2002; BS EN 60749-11:2002; BS EN 60749-18:2003; BS EN 60749-31:2003; BS EN 60749-22:2003; BS EN 60749-1:2003; BS EN 60749-8:2003; BS EN 60749-16:2003; BS EN 60749-36:2003; BS EN 60749-17:2003; BS EN 60749-5:2017; BS EN 60749-25:2003; BS EN 60749-14:2003; BS EN 60749-29:2004; BS EN 60749-39:2006; BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Reemplazar: BS 6493-3:1986

Alcance: Métodos de prueba uniformes preferidos y valores para los niveles de tensión para juzgar las propiedades ambientales de los dispositivos semiconductores (circuitos discretos e integrados) entre los que se puede realizar una selección.

BS EN 60749:1999 Historia

2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
2002 BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
1999 BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
0000 BS 6493-3:1986