BS EN 60749-3:2002
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Examen visual externo.

Estándar No.

BS EN 60749-3:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

 2017-11

Remplazado por

BS EN 60749-3:2017

Ultima versión

BS EN 60749-3:2017

Reemplazar

00/203562 DC-2000 BS EN 60749:1999

Alcance

El propósito de esta parte de IEC 60749 es verificar que los materiales, el diseño, la construcción, las marcas y la mano de obra de un dispositivo semiconductor estén de acuerdo con el documento de adquisición aplicable. La inspección visual externa es una prueba no destructiva y aplicable a todos los tipos de bultos. La prueba es útil para calificación, seguimiento de procesos, aceptación de lotes, o ambos.

BS EN 60749-3:2002 Historia

• 2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
• 2002 BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
• 1999 BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
• 0000 BS 6493-3:1986