BS EN 60749-8:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Sellando

Estándar No.

BS EN 60749-8:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 60749-8:2003

Reemplazar

BS EN 60749:1999

Alcance

Esta parte de IEC 60749 es aplicable a dispositivos semiconductores (dispositivos discretos y circuitos integrados). El objetivo de este método de prueba es determinar la tasa de fuga de dispositivos semiconductores. NOTA Esta prueba es idéntica al método de prueba contenido en la cláusula 5 del capítulo 3 de IEC 60749 (1996), enmienda 2, excepto por la adición de esta cláusula y la cláusula 2 y la posterior renumeración.

BS EN 60749-8:2003 Historia

• 2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
• 2002 BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
• 1999 BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
• 0000 BS 6493-3:1986