Esta parte de IEC 60749 describe una prueba en atmósfera salina que determina la resistencia de los dispositivos semiconductores a la corrosión. Es una prueba acelerada que simula los efectos de la severa atmósfera costera en todas las superficies expuestas. Sólo es aplicable a aquellos dispositivos especificados para un entorno marino. La prueba en atmósfera salina se considera destructiva. En general, esta prueba en atmósfera salina cumple con la norma IEC 60068-2-11 pero, debido a requisitos específicos de los semiconductores, se aplican las cláusulas de esta norma.
BS EN 60749-13:2002 Historia
2018BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
2002BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
1999BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.