BS EN 60749-6:2002
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Almacenamiento a alta temperatura

Estándar No.

BS EN 60749-6:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

 2017-11

Remplazado por

BS EN 60749-6:2017

Ultima versión

BS EN 60749-6:2017

Reemplazar

01/208602 DC-2001 BS EN 60749:1999

Alcance

El propósito de esta parte de IEC 60749 es probar y determinar el efecto en todos los dispositivos electrónicos semiconductores del almacenamiento a temperatura elevada sin aplicar tensión eléctrica. Esta prueba se considera no destructiva pero se debe utilizar preferentemente para la calificación del dispositivo. Si se utilizan dichos dispositivos para el parto, será necesario evaluar los efectos de esta prueba de estrés altamente acelerada. En general, esta prueba de almacenamiento a alta temperatura cumple con la norma IEC 60068-2-48 pero, debido a requisitos específicos de los semiconductores, se aplican las cláusulas de esta norma.

BS EN 60749-6:2002 Historia

• 2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
• 2002 BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
• 1999 BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
• 0000 BS 6493-3:1986