BS EN 60749-29:2004
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Prueba de enganche

Estándar No.

BS EN 60749-29:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

 2011-08

Remplazado por

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Ultima versión

BS EN 60749-29:2011

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BS EN 60749-29:2004 Historia

• 2011 BS EN 60749-29:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Prueba de agarre
• 2004 BS EN 60749-29:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 29: Prueba de enganche.