BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM)

Alcance: Esta norma especifica procedimientos estándar para probar y clasificar dispositivos semiconductores cuando están dañados o degradados por una descarga electrostática (ESD) del modelo de máquina (MM). Se puede utilizar como método de prueba alternativo al método de prueba ESD del modelo de cuerpo humano. Su propósito es proporcionar resultados de pruebas ESD confiables y repetibles para una clasificación precisa. Este método de prueba es aplicable a todos los dispositivos semiconductores y es destructivo. La prueba ESD de dispositivos semiconductores se selecciona de este método de prueba, el modelo de cuerpo humano (HBM, consulte IEC 60749-26) u otros métodos de prueba de la serie IEC 60749. Los métodos de prueba MM y HBM producen resultados similares pero no idénticos. A menos que se especifique lo contrario, se selecciona el método de prueba HBM.

BS EN 60749-27:2006+A1:2012 Documento de referencia

IEC 61340-3-2 Electrostática - Parte 3-2: Métodos para la simulación de efectos electrostáticos - Formas de onda de prueba de descarga electrostática del modelo de máquina (MM)*， 2006-12-01 Actualizar

2006 BS EN 60749-27:2006+A1:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM)
2006 BS EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM)