BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM)
- Estándar No.
- BS EN 60749-27:2006+A1:2012
- Fecha de publicación
- 2006
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN 60749-27:2006+A1:2012
- Reemplazar
- 05/30128292 DC-2005 BS EN 60749:1999 BS EN 60749-27:2006
BS EN 60749-27:2006+A1:2012 Historia
- 2006 BS EN 60749-27:2006+A1:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM)
- 2006 BS EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM)
