BS EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM)
Esta parte de IEC 60749 establece un procedimiento estándar para probar y clasificar dispositivos semiconductores según su susceptibilidad a daños o degradación por exposición a una descarga electrostática (ESD) de un modelo de máquina definido (MM). Puede utilizarse como método de prueba alternativo al método de prueba ESD del modelo de cuerpo humano. El objetivo es proporcionar resultados de pruebas de ESD confiables y repetibles para que se puedan realizar clasificaciones precisas. Este método de prueba es aplicable a todos los dispositivos semiconductores y está clasificado como destructivo. Las pruebas ESD de dispositivos semiconductores se seleccionan entre este método de prueba, el modelo del cuerpo humano (HBM, consulte IEC 60749-26) u otros métodos de prueba de la serie IEC 60749. Los métodos de prueba MM y HBM producen resultados similares pero no idénticos. A menos que se especifique lo contrario, el método de prueba de HBM es el seleccionado.
BS EN 60749-27:2006 Historia
2006BS EN 60749-27:2006+A1:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM)
2006BS EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM)