DS/EN 60749-27/A1:2013
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).

Estándar No.
DS/EN 60749-27/A1:2013
Fecha de publicación
2013
Organización
Danish Standards Foundation
Ultima versión
DS/EN 60749-27/A1:2013
 
Alcance
Establece un procedimiento estándar para probar y clasificar dispositivos semiconductores según su susceptibilidad a daños o degradación por exposición a una descarga electrostática (ESD) de un modelo de máquina definido (MM). Puede utilizarse como prueba alternativa.

DS/EN 60749-27/A1:2013 Historia

  • 2013 DS/EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
  • 2006 DS/EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).

estándares y especificaciones

IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). DS/EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). IEC 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). GSO IEC 60749-27:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). DANSK DS/EN 60749-27/A1:2006 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). DANSK DS/EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). IEC 60749-27:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo de máquina (MM) IEC 60749-27:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).


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