DS/EN 60749-27/A1:2013
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).

Estándar No.

DS/EN 60749-27/A1:2013

Fecha de publicación

2013

Organización

Danish Standards Foundation

Ultima versión

DS/EN 60749-27/A1:2013

Alcance

Establece un procedimiento estándar para probar y clasificar dispositivos semiconductores según su susceptibilidad a daños o degradación por exposición a una descarga electrostática (ESD) de un modelo de máquina definido (MM). Puede utilizarse como prueba alternativa.

DS/EN 60749-27/A1:2013 Historia

• 2013 DS/EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
• 2006 DS/EN 60749-27:2006