IEC 60749-27:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo de máquina (MM)

Estándar No.
IEC 60749-27:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
 2006-07
Remplazado por
IEC 60749-27:2006
Ultima versión
IEC 60749-27:2006/AMD1:2012
 
Alcance
Establece un procedimiento estándar para probar y clasificar dispositivos semiconductores según su susceptibilidad a daños o degradación por exposición a una descarga electrostática de un modelo de máquina definido. El objetivo es proporcionar información confiable y repetible.

IEC 60749-27:2003 Historia

  • 2012 IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 Enmienda 1 - Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM)
  • 2012 IEC 60749-27:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
  • 2006 IEC 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
  • 2003 IEC 60749-27:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo de máquina (MM)

estándares y especificaciones

IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). DS/EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). DS/EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). GSO IEC 60749-27:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). IEC 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). OS GSO IEC 60749-27:2014 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). NF EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). NF EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). CEI EN 60749-27:2007 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).


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