NF EN 60749-27:2006
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).

Estándar No.

NF EN 60749-27:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 60749-27:2006

NF EN 60749-27:2006 Historia

• 2006 NF EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).