NF EN 60749-27/A1:2013
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).

Estándar No.

NF EN 60749-27/A1:2013

Fecha de publicación

2013

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 60749-27/A1:2013

NF EN 60749-27/A1:2013 Historia

• 2013 NF EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).