Esta parte de 60749 establece un procedimiento estándar para probar y clasificar dispositivos semiconductores según su susceptibilidad a daños o degradación por exposición a una descarga electrostática (ESD) de un modelo de máquina definido (MM). Puede utilizarse como método de prueba alternativo al método de prueba ESD del modelo de cuerpo humano. El objetivo es proporcionar resultados de pruebas de ESD confiables y repetibles para que se puedan realizar clasificaciones precisas.
DS/EN 60749-27:2006 Historia
2013DS/EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).