NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).

Estándar No.

NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013

Fecha de publicación

2013

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013

NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013 Historia

• 2013 NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).