IEC 60749-27:2012
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
- Estándar No.
- IEC 60749-27:2012
- Fecha de publicación
- 2012
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 60749-27:2012
- Alcance
- Esta parte de la norma IEC 60749 establece un procedimiento estándar para probar y clasificar dispositivos semiconductores según su susceptibilidad a descargas electrostáticas (ESD) utilizando un modelo de máquina (MM) definido. Puede utilizarse como alternativa al método de prueba de ESD del Modelo de Cuerpo Humano (HBM). Su objetivo es proporcionar resultados de prueba de ESD fiables y repetibles para una clasificación precisa. Este método de prueba es aplicable a todos los dispositivos semiconductores y se clasifica como una prueba destructiva. Las pruebas de ESD de dispositivos semiconductores pueden realizarse utilizando este método de prueba, el Modelo de Cuerpo Humano (HBM; véase IEC 60749-26) u otros métodos de prueba de la serie IEC 60749. Los métodos de prueba MM y HBM producen resultados similares, pero no idénticos. Salvo que se especifique lo contrario, se utiliza el método de prueba HBM.
IEC 60749-27:2012 Documento de referencia
- IEC 61340-3-2 Electrostática - Parte 3-2: Métodos para la simulación de efectos electrostáticos - Formas de onda de prueba de descarga electrostática del modelo de máquina (MM)
IEC 60749-27:2012 Historia
- 2012 IEC 60749-27:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
- 2012 IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 Enmienda 1 - Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM)
- 2006 IEC 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
- 2003 IEC 60749-27:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo de máquina (MM)
estándares y especificaciones
IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
DS/EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
DS/EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
GSO IEC 60749-27:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
IEC 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
IEC 60749-27:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo de máquina (MM)
NF EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
NF EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
CEI EN 60749-27:2007 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).