NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
2006NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).