NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).

Estándar No.
NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006
Fecha de publicación
2006
Organización
Association Francaise de Normalisation
Estado
 2013-03
Remplazado por
NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013
Ultima versión
NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013
 
Introducción
Este estándar establece métodos para realizar pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) en dispositivos semiconductores. Se enfoca específicamente en la evaluación del comportamiento de los dispositivos bajo condiciones de descarga electrostática, utilizando el modelo de máquina. El documento proporciona instrucciones detalladas sobre la configuración del equipo, los parámetros de prueba y los criterios para interpretar los resultados. Además, incluye requisitos para la calibración y el control de los equipos utilizados en el proceso de prueba. La norma también aborda aspectos relacionados con la preparación de los muestras y la documentación necesaria para garantizar la consistencia y la reproducibilidad de los ensayos.

NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006 Historia

  • 2013 NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
  • 2006 NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).

estándares y especificaciones

IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). DS/EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). IEC 60749-27:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). DS/EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). GSO IEC 60749-27:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). IEC 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). NF EN 60749-27:2006 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). NF EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). CEI EN 60749-27:2007 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM). NF C96-022-27/A1*NF EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).


© 2025 Reservados todos los derechos.