BS EN 60749-5:2017
Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario

Estándar No.

BS EN 60749-5:2017

Fecha de publicación

2017

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 60749-5:2017

Reemplazar

BS EN 60749-5:2003

Alcance

Esta parte de la norma IEC 60749 proporciona una prueba de vida útil con polarización de temperatura y humedad en estado estacionario, diseñada para evaluar la fiabilidad de dispositivos de estado sólido con empaque no hermético en un entorno húmedo. El método de prueba se considera destructivo.

BS EN 60749-5:2017 Documento de referencia

• EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)

BS EN 60749-5:2017 Historia

• 2017 BS EN 60749-5:2017 Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario
• 2003 BS EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario

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