CEI EN IEC 60749-5:2024
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.

Estándar No.
CEI EN IEC 60749-5:2024
Fecha de publicación
2024
Organización
Comitato Elettrotecnico Italiano
Ultima versión
CEI EN IEC 60749-5:2024
 
Alcance
ESPAÑOL Esta parte de IEC 60749 proporciona una prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estacionario para evaluar la confiabilidad de dispositivos semiconductores empaquetados no herméticos en ambientes húmedos. Este método de prueba se considera destructivo.

CEI EN IEC 60749-5:2024 Historia

  • 2024 CEI EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.

estándares y especificaciones

IEC 60749-5:2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario. IEC 60749-5:2023 RLV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario. GSO IEC 60749-5:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario. IEC 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario. DS/EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario. IEC 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario. DANSK DS/EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario. EN 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario. DANSK DS/EN 60749-5:2003 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.


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