GSO IEC 60749-5:2014
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.

Estándar No.: GSO IEC 60749-5:2014
Fecha de publicación: 2014
Organización: GCC Standardization Organization
Ultima versión: GSO IEC 60749-5:2014

Alcance: Esta parte de IEC 60749 proporciona una prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estacionario con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticos en ambientes húmedos. NOTA Esta prueba está en general de acuerdo con IEC 60068-2-3 (eliminada)1, pero debido a requisitos específicos de los semiconductores, se aplica el siguiente texto. Este método de prueba se considera destructivo.

GSO IEC 60749-5:2014 Historia

2014 GSO IEC 60749-5:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.

Temas especiales sobre estándares y normas

Método de prueba del probador inteligente de desviación del eje

estándares y especificaciones

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