DANSK DS/EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
IEC 60749-5:2023 está disponible como IEC 60749-5:2023 RLV que contiene la norma internacional y su versión Redline, que muestra todos los cambios del contenido técnico en comparación con la edición anterior. IEC 60749-5:2023 proporciona un estado estable Prueba de vida útil del sesgo de temperatura y humedad para evaluar la confiabilidad de dispositivos semiconductores empaquetados no herméticos en ambientes húmedos. Este método de prueba se considera destructivo. Esta edición incluye los siguientes cambios técnicos significativos con respecto a la edición anterior: a) Se cambia la especificación del equipo de prueba para requerir la necesidad de minimizar los gradientes de humedad relativa y maximizar el flujo de aire entre los dispositivos semiconductores bajo prueba; b) Se cambia la especificación de los accesorios del equipo de prueba para exigir que se evite la condensación en los dispositivos bajo prueba y en los accesorios eléctricos que conectan los dispositivos al equipo de prueba; c) sustitución de las referencias a “unión virtual” por “morir”.
DANSK DS/EN IEC 60749-5:2024 Historia
2024DANSK DS/EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.