BS EN IEC 60749-5:2024
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos: prueba de vida útil con polarización de humedad y temperatura en estado estacionario
- Estándar No.
- BS EN IEC 60749-5:2024
- Fecha de publicación
- 2024
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN IEC 60749-5:2024
- Alcance
- Esta parte de IEC 60749 proporciona una prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estacionario para evaluar la confiabilidad de dispositivos semiconductores empaquetados no herméticos en ambientes húmedos. Este método de prueba se considera destructivo.
BS EN IEC 60749-5:2024 Documento de referencia
- IEC 60749-4 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)
BS EN IEC 60749-5:2024 Historia
- 2024 BS EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos: prueba de vida útil con polarización de humedad y temperatura en estado estacionario
estándares y especificaciones
BS EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario
CEI EN IEC 60749-5:2024 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
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