BS EN 60749-1:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. General.

Estándar No.

BS EN 60749-1:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 60749-1:2003

Reemplazar

01/203181 DC-2001 BS EN 60749:1999

Alcance

Esta parte de IEC 60749 es aplicable a dispositivos semiconductores (dispositivos discretos y circuitos integrados) y establece disposiciones comunes a todas las demás partes de la serie. En caso de contradicción entre esta norma y una especificación de contratación pertinente, deberá prevalecer esta última.

BS EN 60749-1:2003 Historia

• 2003 BS EN 60749-1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. General.