BS EN 60749-31:2003
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente)

Estándar No.

BS EN 60749-31:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 60749-31:2003

Reemplazar

BS EN 60749:1999

Alcance

Esta parte de IEC 60749 es aplicable a dispositivos semiconductores (dispositivos discretos y circuitos integrados). El objetivo de esta prueba es determinar si el dispositivo se enciende debido a un calentamiento interno provocado por sobrecargas excesivas. NOTA Esta prueba es idéntica al método de prueba contenido en 1.1 del capítulo 4 de IEC 60749 (1996), aparte de los cambios en esta cláusula, la adición de títulos a las cláusulas 2 y 3 y la renumeración.

BS EN 60749-31:2003 Historia

• 2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
• 2002 BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
• 1999 BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
• 0000 BS 6493-3:1986