NF EN 60749-22:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 22: robustez de los contactos soldados.
Inicio
NF EN 60749-22:2003
Estándar No.
NF EN 60749-22:2003
Fecha de publicación
2003
Organización
Association Francaise de Normalisation
Ultima versión
NF EN 60749-22:2003
NF EN 60749-22:2003 Historia
2003
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Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 22: robustez de los contactos soldados.
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