IEC 60748-20-1:1994
Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 20: especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos; sección 1: requisitos para el examen visual interno

Estándar No.

IEC 60748-20-1:1994

Fecha de publicación

1994

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60748-20-1:1994

Reemplazar

IEC/DIS 47A(CO)272:1992

Alcance

El objetivo es comprobar los materiales internos, la construcción y la mano de obra de películas y circuitos integrados híbridos. Estos exámenes normalmente se utilizarán antes del roscado o la encapsulación para detectar y eliminar F y HFIC con defectos internos.

IEC 60748-20-1:1994 Historia

• 1994 IEC 60748-20-1:1994 Dispositivos semiconductores; circuitos integrados; parte 20: especificación genérica para circuitos integrados de película y circuitos integrados de película híbridos; sección 1: requisitos para el examen visual interno