ASTM F1190-18
Guía estándar para la irradiación de neutrones de componentes electrónicos imparciales

Estándar No.

ASTM F1190-18

Fecha de publicación

2018

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

ser reemplazado

Remplazado por

ASTM F1190-24

Ultima versión

ASTM F1190-24

Alcance

1.1 Esta guía se aplica estrictamente únicamente a la exposición de componentes semiconductores de silicio imparcial (Si) o arseniuro de galio (GaAs) (circuitos integrados, transistores y diodos) a la radiación de neutrones para determinar el daño permanente en los componentes. Las funciones validadas de daño por desplazamiento de 1 MeV codificadas en las normas nacionales no están disponibles actualmente para otros materiales semiconductores. 1.2 Los elementos de esta guía, con las desviaciones indicadas, también pueden ser aplicables a la exposición de semiconductores compuestos de otros materiales, excepto que las funciones validadas de daño por desplazamiento de 1 MeV codificadas en las normas nacionales no estén disponibles actualmente. 1.3 En esta guía solo se abordan las condiciones de exposición. Los efectos de la radiación en la muestra de prueba deben determinarse utilizando métodos de prueba eléctricos apropiados. 1.4 Esta guía aborda aquellas cuestiones e inquietudes relacionadas con las irradiaciones con neutrones. 1.5 Las exposiciones del sistema y subsistema y los métodos de prueba no están incluidos en esta guía. 1.6 El rango de interés para la fluencia de neutrones en las pruebas de semiconductores con daños por desplazamiento oscila entre aproximadamente 109 y 1016 1 MeV n/cm2. 1.7 Esta guía no aborda los efectos de eventos de neutrones únicos o múltiples inducidos por neutrones ni el recocido transitorio. 1.8 Esta guía proporciona una alternativa al Método de prueba 1017, Prueba de desplazamiento de neutrones, un componente de MIL-STD-883 y MIL-STD-750. 1.9 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad, salud y medio ambiente y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso. 1.10 Esta norma internacional fue desarrollada de acuerdo con los principios internacionalmente reconocidos sobre estandarización establecidos en la Decisión sobre Principios para el Desarrollo de Normas, Guías y Recomendaciones Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del Comercio.

ASTM F1190-18 Documento de referencia

• ASTM E1249 Práctica estándar para minimizar los errores de dosimetría en las pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio que utilizan fuentes de Co-60*， 2021-02-01 Actualizar
• ASTM E1250 Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio
• ASTM E1854 Práctica estándar para garantizar la coherencia de las pruebas en daños por desplazamiento de neutrones de piezas electrónicas
• ASTM E1855 Método de prueba estándar para el uso de transistores bipolares de silicio 2N2222A como sensores de espectro de neutrones y monitores de daños por desplazamiento
• ASTM E2450 Práctica estándar para la aplicación de dosímetros de termoluminiscencia de CaF2 (Mn) en entornos mixtos de neutrones y fotones*， 2023-01-01 Actualizar
• ASTM E264 Método de prueba estándar para medir velocidades de reacción de neutrones rápidos mediante radioactivación de níquel
• ASTM E265 Método de prueba estándar para medir velocidades de reacción y fluencias de neutrones rápidos mediante radioactivación de azufre-32
• ASTM E668 Práctica estándar para la aplicación de sistemas de termoluminiscencia-dosimetría (TLD) para determinar la dosis absorbida en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos*， 2020-07-01 Actualizar
• ASTM E720 Guía estándar para la selección y el uso de láminas de activación de neutrones para determinar los espectros de neutrones empleados en pruebas de dureza por radiación de productos electrónicos
• ASTM E721 Guía estándar para determinar espectros de energía de neutrones a partir de sensores de neutrones para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
• ASTM E722 Práctica estándar para caracterizar espectros de fluencia de energía de neutrones en términos de una fluencia de neutrones monoenergética equivalente para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
• ASTM F1892 Guía estándar para pruebas de efectos de radiación ionizante (dosis total) de dispositivos semiconductores
• ASTM F980 Guía para la medición del recocido rápido de daños por desplazamiento inducido por neutrones en dispositivos semiconductores de silicio

ASTM F1190-18 Historia

• 2024 ASTM F1190-24 Guía estándar para la irradiación de neutrones de componentes electrónicos imparciales
• 2018 ASTM F1190-18 Guía estándar para la irradiación de neutrones de componentes electrónicos imparciales
• 2011 ASTM F1190-11 Guía estándar para la irradiación de neutrones de componentes electrónicos imparciales
• 1999 ASTM F1190-99(2005) Guía estándar para la irradiación de neutrones de componentes electrónicos imparciales
• 1999 ASTM F1190-99 Guía estándar para la irradiación de neutrones de componentes electrónicos imparciales
• 1993 ASTM F1190-93 Guía estándar para la irradiación de neutrones de componentes electrónicos imparciales