NF EN 60749-44:2016
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: método de prueba para los efectos de un evento único (SEE) irradiado por un haz de neutrones para dispositivos semiconductores.

Estándar No.

NF EN 60749-44:2016

Fecha de publicación

2016

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 60749-44:2016

NF EN 60749-44:2016 Historia

• 2016 NF EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: método de prueba para los efectos de un evento único (SEE) irradiado por un haz de neutrones para dispositivos semiconductores.