NF EN 60749-11:2002
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: variaciones rápidas de temperatura. Método de los dos baños.

Estándar No.

NF EN 60749-11:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 60749-11:2002

NF EN 60749-11:2002 Historia

• 2002 NF EN 60749-11:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: variaciones rápidas de temperatura. Método de los dos baños.