DIN EN 62047-22 E:2012-11
Componentes semiconductores - componentes de la tecnología de microsistemas - Parte 22: Método de prueba de tracción electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles
- Estándar No.
- DIN EN 62047-22 E:2012-11
- Fecha de publicación
- 1970
- Organización
- /
- Estado
- Remplazado por
- DIN EN 62047-22:2015
- Ultima versión
- DIN EN 62047-22:2015-04
DIN EN 62047-22 E:2012-11 Historia
- 2015 DIN EN 62047-22:2015-04 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 22: Método de prueba de tracción electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles (IEC 62047-22:2014); Versión alemana EN 62047-22:2014
- 2015 DIN EN 62047-22:2015 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 22: Método de prueba de tracción electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles (IEC 62047-22:2014); Versión alemana EN 62047-22:2014
- 1970 DIN EN 62047-22 E:2012-11 Componentes semiconductores - componentes de la tecnología de microsistemas - Parte 22: Método de prueba de tracción electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles
