IEEE 1181-1991
Práctica recomendada para métodos de prueba de enganche para la caracterización de procesos de circuitos integrados CMOS y BiCMOS

Estándar No.

IEEE 1181-1991

Fecha de publicación

1991

Organización

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

Ultima versión

IEEE 1181-1991

IEEE 1181-1991 Historia

• 1991 IEEE 1181-1991 Práctica recomendada para métodos de prueba de enganche para la caracterización de procesos de circuitos integrados CMOS y BiCMOS