CISPR 17:2011 especifica métodos para medir las características de supresión del interferente radioeléctrico de dispositivos de filtrado EMC pasivos utilizados en líneas de alimentación y señales, así como en otras circuitos. Los métodos definidos también pueden aplicarse a combinaciones de dispositivos de protección contra sobretensión y dispositivos de filtrado EMC. El método de medición abarca un rango de frecuencias que va desde 9 kHz hasta varios GHz dependiendo del dispositivo y del circuito de prueba. El estándar describe procedimientos para pruebas en laboratorio (pruebas tipo) así como para pruebas de fábrica. Las características de supresión de los filtradores EMC y sus componentes, que se utilizan para la supresión de perturbaciones EM, son una función de numerosas variables tales como la impedancia de los circuitos a los que están conectados, tensión de operación e intensidad de corriente, y temperatura ambiente. Este estándar especifica métodos de prueba uniformes que permitirán comparar las características de filtrado y supresión determinadas por laboratorios de pruebas o especificadas por fabricantes. Se proporcionan procedimientos para mediciones en condiciones imparciales e imparciales. Las mediciones bajo condiciones imparciales se realizan para determinar el comportamiento no lineal potencial de los dispositivos de filtrado EMC, como los efectos de saturación en los inductores con núcleo magnético. Este tipo de pruebas sirve para demostrar la utilidad en una aplicación específica (como convertidores de frecuencia que generan altas amplitudes de corriente de modo común y, por lo tanto, podrían llevar a la saturación de los inductores). Las mediciones bajo condiciones imparciales pueden omitirse si el comportamiento no lineal puede determinarse mediante otros métodos (por ejemplo, medición separada de la saturación de los inductores utilizados). La primera edición del CISPR 17 (1981) prescribió los métodos de medición principalmente para la pérdida de inserción en filtradores de línea de alimentación. Sin embargo, hoy se pueden encontrar muchos tipos de filtros EMC y componentes de supresión sofisticados en diversos dispositivos electrónicos. Estos filtros deben ser caracterizados usando métodos de medición estándar.
GSO CISPR 17:2021 Historia
2021GSO CISPR 17:2021 Métodos de medición de las características de supresión de dispositivos de filtrado EMC pasivos.