IEC 62979:2017
Módulos fotovoltaicos - Diodo de derivación - Prueba de fuga térmica
- Estándar No.
- IEC 62979:2017
- Fecha de publicación
- 2017
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62979:2017
- Alcance
- Este documento proporciona un método para evaluar si un diodo de derivación montado en el módulo es susceptible a un descontrol térmico o si hay suficiente enfriamiento para que sobreviva la transición de la operación de polarización directa a la operación de polarización inversa sin sobrecalentamiento. Esta metodología de prueba es particularmente adecuada para probar diodos de barrera Schottky@ que tienen la característica de aumentar la corriente de fuga en función del voltaje de polarización inversa a alta temperatura@, lo que los hace más susceptibles a la fuga térmica. Los especímenes de prueba que emplean diodos P/N como diodos de derivación están exentos de la prueba de fuga térmica requerida en este documento porque la capacidad de los diodos P/N para resistir la polarización inversa es suficientemente alta.
IEC 62979:2017 Historia
- 2017 IEC 62979:2017 Módulos fotovoltaicos - Diodo de derivación - Prueba de fuga térmica
