Esta norma especifica los términos y definiciones de las matrices de cristales de centelleo de silicato de itrio lutecio dopado con cerio, marcas de productos, requisitos técnicos, métodos de detección, reglas de inspección, embalaje, marcado, transporte y almacenamiento, etc. Esta norma se aplica a las matrices de cristales de centelleo de silicato de itrio-lutecio dopados con cerio para la detección de rayos X, rayos γ y partículas cargadas.