NF EN 60749-35:2006
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba climáticos y mecánicos. Parte 35: microscopía acústica para componentes electrónicos con carcasa de plástico.

Estándar No.

NF EN 60749-35:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 60749-35:2006

NF EN 60749-35:2006 Historia

• 2006 NF EN 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba climáticos y mecánicos. Parte 35: microscopía acústica para componentes electrónicos con carcasa de plástico.