NF A09-231-1*NF EN 12543-1:1999 Pruebas no destructivas. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para uso en ensayos no destructivos. Parte 1: método de escaneo
1999NF A09-231-1*NF EN 12543-1:1999 Pruebas no destructivas. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para uso en ensayos no destructivos. Parte 1: método de escaneo