NF C91-004-17/A2*NF EN 61000-4-17/A2:2009
Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC

Estándar No.
NF C91-004-17/A2*NF EN 61000-4-17/A2:2009
Fecha de publicación
2009
Organización
Association Francaise de Normalisation
Ultima versión
NF C91-004-17/A2*NF EN 61000-4-17/A2:2009
 
Introducción
Este estándar establece las condiciones y métodos para realizar pruebas de inmunidad a fluctuaciones en la entrada de alimentación de corriente continua. Se enfoca en la evaluación de la capacidad de los dispositivos para resistir perturbaciones eléctricas en su puerto de entrada. El documento proporciona una guía detallada sobre la configuración de los equipos de prueba, los procedimientos de medición y los criterios de aceptación. Además, incluye especificaciones sobre la generación de señales de prueba y la interpretación de los resultados. Este estándar se aplica a diversos dispositivos electrónicos y sistemas que operan con alimentación de corriente continua, asegurando una metodología uniforme para la verificación de su compatibilidad electromagnética.

NF C91-004-17/A2*NF EN 61000-4-17/A2:2009 Historia

  • 2009 NF C91-004-17/A2*NF EN 61000-4-17/A2:2009 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
  • 2004 NF C91-004-17/A1*NF EN 61000-4-17/A1:2004 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
  • 1999 NF C91-004-17*NF EN 61000-4-17:1999 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC.

estándares y especificaciones

IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC DS/EN 61000-4-17:2000 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC SANS 61000-4-17:2009 Compatibilidad electromagnética (EMC) Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC DS/EN 61000-4-17/A2:2009 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC DS/EN 61000-4-17/A1:2004 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC GSO IEC 61000-4-17:2008 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001 CSV Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC SANS 61000-4-17:2003 Compatibilidad electromagnética (EMC) Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC OS GSO IEC 61000-4-17:2008 electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC NF C91-004-17/A1*NF EN 61000-4-17/A1:2004 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC


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