"La estructura de capacidad de prueba para circuitos digitales descrita en IEEE Std 1149.1-1990 se ha ampliado para proporcionar instalaciones similares para circuitos de señales mixtas. Se describe la arquitectura, junto con los medios de control y acceso a datos de prueba tanto analógicos como digitales. Muestra Los detalles de implementación y aplicación (que no forman parte del estándar) se incluyen a modo ilustrativo".