UNE-EN 62047-2:2006
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 2: Método de ensayo de tracción de materiales de película delgada (IEC 62047-2:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

Estándar No.

UNE-EN 62047-2:2006

Fecha de publicación

2007

Organización

ES-UNE

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UNE-EN 62047-2:2006

UNE-EN 62047-2:2006 Historia

• 2007 UNE-EN 62047-2:2006 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 2: Método de ensayo de tracción de materiales de película delgada (IEC 62047-2:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)