Prólogo Esta norma cubre métodos recomendados y prácticas de informes estandarizados para la caracterización eléctrica de transistores orgánicos. Debido a la naturaleza de los transistores orgánicos, se pueden introducir errores de medición significativos si no se abordan adecuadamente. Este estándar describe las fuentes más comunes de errores de medición@ y brinda prácticas recomendadas para minimizar y/o caracterizar el efecto de cada uno. Se incluyen prácticas de informes estándar para minimizar la confusión al analizar los datos reportados. Se incluye la divulgación de las condiciones ambientales y el tamaño de la muestra para que la comunidad investigadora pueda evaluar adecuadamente los resultados. Estas prácticas de presentación de informes también respaldan la repetibilidad de los resultados@ para que los nuevos descubrimientos puedan confirmarse de manera más eficiente. Las prácticas en este estándar fueron compiladas de organizaciones de investigación e industria que desarrollan dispositivos de transistores orgánicos@ materiales@ y técnicas de fabricación. Estas prácticas se basaron en procedimientos operativos estándar utilizados en laboratorios de todo el mundo. Este estándar se inició en 2002 para facilitar la evolución de los transistores orgánicos del laboratorio a una industria sostenible. Los métodos de caracterización estandarizados y las prácticas de presentación de informes crean un medio de comparación eficaz de la información y una base para la preparación de la fabricación. ¿Alcance? Esta norma describe un método para caracterizar dispositivos electrónicos orgánicos, incluidas técnicas de medición, métodos para informar datos y las condiciones de prueba durante la caracterización.
IEEE 1620-2004 Historia
2008IEEE 1620-2008 Métodos de prueba para la caracterización de materiales y transistores orgánicos (IEEE Computer Society)
2004IEEE 1620-2004 Métodos de prueba estándar para la caracterización de materiales y transistores orgánicos (documento de la IEEE Computer Society)