YD/T 3944-2021
Método de evaluación de la prueba comparativa de chips de inteligencia artificial (Versión en inglés)
Inicio
YD/T 3944-2021
Estándar No.
YD/T 3944-2021
Idiomas
Chino,
Disponible en inglés
Fecha de publicación
2021
Organización
工业和信息化部
Ultima versión
YD/T 3944-2021
YD/T 3944-2021 Historia
2021
YD/T 3944-2021
Método de evaluación de la prueba comparativa de chips de inteligencia artificial
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