YD/T 3944-2021
Método de evaluación de la prueba comparativa de chips de inteligencia artificial (Versión en inglés)

Estándar No.
YD/T 3944-2021
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2021
Organización
工业和信息化部
Ultima versión
YD/T 3944-2021

YD/T 3944-2021 Historia

  • 2021 YD/T 3944-2021 Método de evaluación de la prueba comparativa de chips de inteligencia artificial



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