DIN EN IEC 60749-10:2023-12
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto (IEC 60749-10:2022); Versión alemana EN IEC 60749-10:2022 / Nota: DIN EN 60749-10 (2003-04) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 202...

Estándar No.

DIN EN IEC 60749-10:2023-12

Fecha de publicación

2023

Organización

German Institute for Standardization

Ultima versión

DIN EN IEC 60749-10:2023-12

DIN EN IEC 60749-10:2023-12 Historia

• 2023 DIN EN IEC 60749-10:2023-12 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto (IEC 60749-10:2022); Versión alemana EN IEC 60749-10:2022 / Nota: DIN EN 60749-10 (2003-04) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 202...
• 2023 DIN EN IEC 60749-10:2023-06 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto (IEC 60749-10:2022); Versión alemana EN IEC 60749-10:2022 / Nota: Fecha de emisión 2023-05-19* Diseñado como reemplazo de DIN EN 60749-10 (200...