IEEE Std 300-1988
Procedimientos de prueba estándar IEEE para detectores de partículas cargadas de semiconductores

Estándar No.

IEEE Std 300-1988

Fecha de publicación

1988

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Estado

Remplazado por

IEEE Std 300-1988(R2006)

Ultima versión

IEEE Std 300-1988(R2006)

Alcance

Esta norma se aplica a los detectores de radiación semiconductores que se utilizan para la detección y espectroscopía de alta resolución de partículas cargadas. Las técnicas de medición descritas fueron seleccionadas para que estén fácilmente disponibles para todos los fabricantes y usuarios de detectores de partículas cargadas. El objetivo de esta norma es establecer procedimientos de prueba estándar para detectores de partículas cargadas de semiconductores....

IEEE Std 300-1988 Historia

• 0000 IEEE Std 300-1988(R2006)
• 1988 IEEE Std 300-1988 Procedimientos de prueba estándar IEEE para detectores de partículas cargadas de semiconductores
• 1982 IEEE 300-1982 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA DETECTORES DE PARTÍCULAS CARGADAS DE SEMICONDUCTOR
• 1970 IEEE 300-1969 Procedimiento de prueba estándar de EE. UU. y IEEE para detectores de radiación semiconductora (para radiación ionizante)