DIN EN 60749-27:2013-04
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012); Versión alemana EN 60749-27:2006 + A1:2012 / Nota: DIN EN 60749-27 (2007-01) re...
- Estándar No.
- DIN EN 60749-27:2013-04
- Fecha de publicación
- 2013
- Organización
- German Institute for Standardization
- Ultima versión
- DIN EN 60749-27:2013-04
DIN EN 60749-27:2013-04 Historia
- 2013 DIN EN 60749-27:2013-04 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012); Versión alemana EN 60749-27:2006 + A1:2012 / Nota: DIN EN 60749-27 (2007-01) re...
- 2013 DIN EN 60749-27:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012); Versión alemana EN 60749-27:2006 + A1:2012
- 0000 DIN EN 60749-27/A1:2011
- 0000 DIN EN 60749-27:2007
