European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Ultima versión
EN 62979:2017
Alcance
IEC 62979:2017(E) proporciona un método para evaluar si un diodo de derivación montado en el módulo es susceptible a un descontrol térmico o si hay suficiente enfriamiento para que sobreviva la transición de la operación de polarización directa a la operación de polarización inversa sin sobrecalentamiento. La metodología de prueba es particularmente adecuada para probar diodos de barrera Schottky, que tienen la característica de aumentar la corriente de fuga en función del voltaje de polarización inversa a alta temperatura, lo que los hace más susceptibles a la fuga térmica.
EN 62979:2017 Historia
2017EN 62979:2017 Módulo fotovoltaico - Diodo de derivación - Prueba de fuga térmica